սեղմիր այստեղ կապին հետևելու համար
Mathematical models of yield prediction in modern VLSI design
Այս աշխատանքը բաղկացած է երկու հիմնական մասից. նախ ներկայացված է պիտանի ելքի (yield) խնդիրը ժամանակակից գեր-մեծ ինտեգրալային սխեմաների (ԳՄԻՍ) արտադրությունում: Այնուհետև ներկայացվում են արտադրական խոտանի տեսակարար կշռի գնահատման մաթեմատիկական վիճակագրական մոդելները: Աշխատանքում հիմնական ուշադրությունը դարձվում է անկանոն դեֆեկտների առկայությամբ պայմանավորված խոտանին:
oai:arar.sci.am:258486
ՀՀ ԳԱԱ Հիմնարար գիտական գրադարան
Dec 8, 2023
Jul 24, 2020
27
https://arar.sci.am/publication/281557
Հրատարակության անուն | Ամսաթիվ |
---|---|
ԳՄԻՍ պիտանիություն գնահատման մաթեմատիկական մոդելները | Dec 8, 2023 |
Seda N. Manukian
E. P. Serrano M. I. Troparevsky M. A. Fabio Գլխավոր խմբ․՝ Մ․ Մ․ Ջրբաշյան (1966-1994) Ռ․ Վ․ Համբարձումյան (1994-2009) Ա․ Ա․ Սահակյան (2010-)
Gatsinzi, J.-B. Գլխ. խմբ.՝ Անրի Ներսեսյան Պատ. խմբ.՝ Լինդա Խաչատրյան Խմբ. տեղակալ՝ Ռաֆայել Բարխուդարյան
Hayrapetyan, Feliks Գլխ. խմբ.՝ Անրի Ներսեսյան Պատ. խմբ.՝ Լինդա Խաչատրյան Խմբ. տեղակալ՝ Ռաֆայել Բարխուդարյան
Karapetyan, V. S. Misakyan, S. Z. Sargsyan, Sh. G. Գլխավոր խմբ.՝ Ա․ Վ․ Բաբախանյան
Hovhannisyan, Knarik Misakyan, Samvel Sargsyan, Vahan Muradyan, Rima