Journal or Publication Title:
Date of publication:
Volume:
ISSN:
Additional Information:
Title:
ԳՄԻՍ պիտանիություն գնահատման մաթեմատիկական մոդելները
Other title:
Mathematical models of yield prediction in modern VLSI design
Creator:
Subject:
Uncontrolled Keywords:
Coverage:
Abstract:
Այս աշխատանքը բաղկացած է երկու հիմնական մասից. նախ ներկայացված է պիտանի ելքի (yield) խնդիրը ժամանակակից գեր-մեծ ինտեգրալային սխեմաների (ԳՄԻՍ) արտադրությունում: Այնուհետև ներկայացվում են արտադրական խոտանի տեսակարար կշռի գնահատման մաթեմատիկական վիճակագրական մոդելները: Աշխատանքում հիմնական ուշադրությունը դարձվում է անկանոն դեֆեկտների առկայությամբ պայմանավորված խոտանին: