Publication Details:
Լույս է տեսնում 1948 թվականից՝ տարին 4 անգամ։
Journal or Publication Title:
Date of publication:
Volume:
Number:
ISSN:
Official URL:
Additional Information:
Бабаян А. В., Шукурян С. К., Բաբայան Ա․ Վ., Շուքուրյան Ս. Կ.
Title:
Learning methodology for validation of memory bist solutions via a shared interface
Other title:
Обучаемая методология валидации решений по встроенному самотестированию устройств памяти через разделяемый интерфейс ; Ուսուցանվող մեթոդաբանություն հիշող սարքերի ընդհանուր կապուղով ներկառուցված ինքնաթեստավորման լուծումների վավերացման համար
Creator:
Babayan, A. V. ; Shoukourian, S. K.
Contributor(s):
Պատ․ խմբ․՝ Ա․ Գ․ Նազարով (1957-1964) ; Մ․ Վ․ Կասյան (1964-1988) ; Ռ․ Մ․ Մարտիրոսյան (1989-2017 ) ; Գլխավոր խմբ․՝ Վ․ Շ․ Մելիքյան (2018-)
Subject:
Uncontrolled Keywords:
MBIST ; test and repair validation ; shared interface test ; test integration ; SoC test ; randomization
Coverage:
Abstract:
Memory built-in self-test (MBIST) continues to have its unique place in IC industry. It provides test and repair capabilities which significantly increase IC manufacturing yield. In this paper, a methodology is proposed to soften the mentioned above exhaustion. A new algorithm of learning is proposed, and the results of the algorithm application are adduced which justify its efficiency in reducing the exhaustion.
Հիշող սարքերի ներկառուցված թեստավորումը (MBIST) շարունակում է զբաղեցնել իր ուրույն տեղը ինտեգրալ սխեմաների (ԻՍ) արդյունաբերությունում։ Այն ընձեռում է թեստավորման և վերականգնման հնարավորություններ, որոնք զգալիորեն բարձրացնում են ԻՍ արդյունաբերության պիտանի ելքի տոկոսը։ Առաջարկվում է մեթոդաբանություն, որը մեղմում է վերը նկարագրված հատարկումը։ Առաջարկվում է ուսուցանվող նոր ալգորիթմ, իսկ ալգորիթմի կիրառման արդյունքները ներկայացվում են, որոնք հավաստում են դրա արդյունավետությունը հատարկման նվազեցման գործում։
Встроенные системы самотестирования памяти (MBIST) продолжают занимать уникальное место в индустрии интегральных схем (ИС). Они предоставляют возмож-ности тестирования и восстановления ИС, что значительно увеличивает выход годных ИС во время их производства. В данной статье предлагается методология смягчения упомянутого выше перебора. Предложен новый обучающийся алгоритм и приведены результаты его применения, обосновывающие его эффективность для снижения перебора.
Place of publishing:
Երևան
Publisher:
Type:
Format:
Call number:
Digitization:
ՀՀ ԳԱԱ Հիմնարար գիտական գրադարան