Object structure

Publication Details:

Լույս է տեսնում 1948 թվականից՝ տարին 4 անգամ։

Journal or Publication Title:

ՀՀ ԳԱԱ և ՀՊՃՀ Տեղեկագիր. Տեխնիկական գիտություններ =Proceedings of the NAS RA and SEUA: Technical Sciences

Date of publication:

2010

Volume:

63

Number:

1

ISSN:

0002-306X

Official URL:


Title:

РЕНТГЕНОИНТЕРФЕРОМЕТРИЧЕСКИЙ МЕТОД ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПЛОТНОСТИ РАДИАЦИОННЫХ ДЕФЕКТОВ В МОНОКРИСТАЛЛАХ КРЕМНИЯ

Other title:

ՍԻԼԻՑԻՈՒՄԻ ՄԻԱԲՅՈՒՐԵՂՆԵՐՈՒՄ ՌԱԴԻԱՑԻՈՆ ԱՐԱՏՆԵՐԻ ԽՏՈՒԹՅԱՆ ՈՐՈՇՄԱՆ ՌԵՆՏԳԵՆԱԻՆՏԵՐՖԵՐԱՉԱՓԱԿԱՆ ՄԵԹՈԴ / Ա. Հ. ԱԲՈՅԱՆ: X-RAY INTERFEROMETRIC METHOD OF DEFINING RADIATION DEFECT DENSITY IN SILICON MONOCRYSTALS / A. H. ABOYAN.

Creator:

А. О. Абоян

Contributor(s):

Պատ․ խմբ․՝ Ա․ Գ․ Նազարով (1957-1964) ; Մ․ Վ․ Կասյան (1964-1988) ; Ռ․ Մ․ Մարտիրոսյան (1989-2017 ) ; Գլխավոր խմբ․՝ Վ․ Շ․ Մելիքյան (2018-)

Subject:

Technology

Uncontrolled Keywords:

интерферометр ; монокристалл кремния ; плотность радиационных дефектов ; доза облучения ; муаровые картины.

Coverage:

35-41

Abstract:

Теоретически обоснован и экспериментально реализован рентгеноинтерферометрический метод определения плотности радиационных точечных дефектов в зависимости от дозы и глубины проникновения электронного облучения с использованием трехкристального интерферометра, изготовленного из совершенного монокристалла кремния с отра¬жающими плоскостями (110). По муаровым картинам определены относительные деформации и вычислена плотность радиационных дефектов в зависимости от дозы облучения быстрыми электронами энергией 8 МэВ.

Place of publishing:

Երևան

Publisher:

ՀՀ ԳԱԱ հրատ.

Date created:

2010-07-10

Type:

Հոդված

Format:

pdf

Call number:

АЖ 413

Digitization:

ՀՀ ԳԱԱ Հիմնարար գիտական գրադարան

Location of original object:

ՀՀ ԳԱԱ Հիմնարար գիտական գրադարան