Publication Details:
Լույս է տեսնում 1966 թվականից՝ տարին 4 անգամ։
Journal or Publication Title:
ՀՀ ԳԱԱ Տեղեկագիր: Ֆիզիկա = Proceedings of the NAS RA: Physics
Date of publication:
Volume:
Number:
ISSN:
Official URL:
Additional Information:
Title:
Рассеяние плоской волны на дифракционной решетке в картине Френеля
Other title:
The Fresnel Picture of Scattering of a Plane Wave on a Diffraction Grating ; Դիֆրակցիոն ցանցի վրա հարթ ալիքի ցրման Ֆրենելի պատկերը
Creator:
Хачатрян, A. Ж. ; Аванесян, А. С. ; Агабекян, В. Н. ; Парсамян, А. Ф.
Corporate Creators:
Государственный инженерный университет Армении, Ереван, Армения ; Институт прикладных проблем физики НАН Армении, Ереван, Армения
Contributor(s):
Պատ․ խմբ․՝ Գ․ Մ․ Ղարիբյան (1966-1992) ; Գլխ․ խմբ․՝ Վ․ Մ․ Հարությունյան (1993-2021) ; Կ․ Մ․ Ղամբարյան (2022-)
Subject:
Coverage:
Abstract:
В данной работе рассматривается, обычно исследуемую в приближении Фраунгофера, задачу рассеяния плоской волны на дифракционной решетке в картине Френеля. Показано, что для приближенного описания рассеянного поля необходимо введение двух волновых параметров, а именно волнового параметра по области наблюдения и волнового параметра для области расположения источников. Получены значения максимумов интенсивности дифрагированного поля в картине Френеля для углов, соответствующих максимумам интенсивности в картине Фраунгофера. Показано, что на боковых лепестках дифракционной картины интенсивность поля принимает максимально возможное значение.
In this paper, we consider the problem of scattering of a plane wave by a diffraction grating in a Fresnel pattern, usually studied in the Fraunhofer approximation. It is shown that for an approximate description of the scattered field, it is necessary to introduce two wave parameters, namely, the wave parameter over the observation region and the wave parameter for the region where the sources are located. The intensity maxima of the diffracted field in the Fresnel pattern are obtained for the angles corresponding to the intensity maxima in the Fraunhofer pattern. It is shown that the field intensity on the side lobes of the diffraction pattern takes on the maximum possible value.