О возможности создания режима ближнего поля для наноисследований в электронике

Էլեկտրոնիկայում նանոհետազոտություններ կատարելու նպատակով մոտիկ դաշտի ռեժիմ ստեղծելու պարզ հնարավորության մասին / Մ. Հ. Ազարյան, Վ. Մ. Հարությունյան։ On the Simple Opportunity of Realizing Short-range Field Regime for Nano-investigations in Electronics / M. H. Azaryan, V. M. Haroutyunyan.

М. Г. Азарян ; В. М. Арутюнян

Պատ․ խմբ.՝ Վ. Հ․ Համբարձումյան (1944-1959) ; Մ․ Մ․ Ջրբաշյան (1960-1965) ; Ա․ Գ․ Նազարով (1966-1983) ; Պատ․ խմբ․ տեղակալ՝ Վ․ Հ․ Ղազարյան (1983-1986) ; Պատ․ խմբ․՝ Դ․ Մ․ Սեդրակյան (1987-1999) ; Գլխավոր խմբ․՝ Ս․ Ա․ Համբարձումյան (2000-2004) ; Վ․ Ս․ Զաքարյան (2005-2018)

Physics ; Science

нанотехнология ; зондовая микроскопия ; ближнее поле ; наномасштабный зазор

319-326

Էքսպերիմենտալ նանոհետազոտություններ կատարելու համար առաջարկվում է թունելահոսանքային զոնդավորմամբ սարքավորման օգնությամբ մի պարզ և էժանագին մեթոդ, որտեղ իրագործվում է մոտիկ-կարգի դաշտերի ռեժիմ, երբ ի հայտ են գալիս զոնդ/հետազոտվող մակերևույթ նանոմասշտաբային բացակի օրինաչափությունները: Նախագծված և ստենդի տեսքով հավաքված սարքավորման նախնական հետազոտությունները ցույց են տալիս, որ դրանց օգնությամբ հնարավոր է լուծել ելակետային խնդիրը: An idea of the simple and not expensive tunnel-current probe equipment is advanced. It offers the possibility of carrying out nano-investigations. The equipment realizes short-range field regime wherein the regularities of nanoscale probe/surface under study compliance come into play. The previous investigations of the developed-designed device in the desk form revealed that the initial goal can be attained using the advanced equipment.

Երևան

ՀՀ ԳԱԱ Հիմնարար գիտական գրադարան