Publication Details:
Հանդեսը լույս է տեսնում տարին երկու անգամ:
Journal or Publication Title:
Date of publication:
Volume:
ISSN:
Official URL:
Additional Information:
Title:
Անալոգային ինտեգրալ սխեմաներում ցածր լարման շեղմամբ համեմատիչի նախագծումը
Other title:
Конструкция компараторов с низким напряжением смешения в аналоговых интегрированных схемах ; Design Of Low-Offset Comparators For Analog Integrated Circuits
Creator:
Մխիթարյան, Արթուր ; Գրիգորյան, Հայկ ; Գրիգորյան, Մուշեղ ; Հովհաննիսյան, Վարդան ; Ավետիսյան, Աշոտ
Corporate Creators:
Contributor(s):
Գլխավոր խմբ.՝ Վալերի Ավանեսյան
Subject:
Uncontrolled Keywords:
համեմատիչ ; լարման շեղում ; ԻՍ ; բացասական հետադարձ կապ
Coverage:
Abstract:
Ժամանակակից անալոգային ինտեգրալ սխեմաներում տրանզիստորների չափերը հասել են ընդհուպ մինչև 3նմ-ի։ Այդպիսի նանոչափական կառուցվածքներով նախագծման պայմաններում լրջագույն մարտահրավեր է դարձել պարամետրերի ճշգրիտ ապահովումը՝ կախված տարբեր գործոններից՝ սնման լարման և շրջապատող միջավայրի ջերմաստիճանի տատանումներից, կիսահաղորդչային տեխնոլոգիաների անկատարությունից։ Այս աշխատանքում իրականացված է անալոգային համեմատիչի նախագծում, որտեղ առաջարկվել է նոր սխեմա՝ հիմնված երկու ռեժիմներում աշխատող ուժեղարարի վրա։ Իրականացած պարամետրական օպտիմալացման հաշվին հաջողվել է բարելավել լարման շեղման արժեքը՝ 7մՎ-ից հասցնելով 1մՎ-ը չգերազանցող արժեքի՝ տեխնոլոգիական շեղումների 4,5 սիգմա տիրույթում։
В современных аналоговых интегральных схемах размер транзисторов достигает 3 нм. Точное задание параметров стало серьезной проблемой при проектировании таких наноразмерных структур, зависящих от различных факторов: напряжения питания, колебаний температуры окружающей среды, несовершенства полупроводниковых технологий. В работе был разработан аналоговый компаратор, в котором предложена новая схема на основе усилителя, работающего в двух режимах. За счет параметрической оптимизации значение отклонения напряжения было улучшено с 7 мВ до значения, не превышающего 1 мВ в диапазоне технологических отклонений 4,5 сигма.
In modern analog integrated circuits, the size of transistors reaches 3 nm. Accurate setting of parameters has become a serious problem in the design of such nanoscale structures, which depend on various factors: supply voltage, ambient temperature fluctuations, imperfections in semiconductor technologies. In this work, an analog comparator was developed, in which a new circuit based on an amplifier operating in two modes was proposed. Due to parametric optimization, the voltage deviation value was improved from 7 mV to a value not exceeding 1 mV in the 4.5 sigma process deviation range.
Place of publishing:
Ստեփանակերտ
Type:
Format:
Digitization:
ՀՀ ԳԱԱ Հիմնարար գիտական գրադարան