Рентгеноинтерферометрическое изображение дислокаций в зависимости от направления падения первичного пучка в кратных интерферометрах

Դիսլոկացիաների ռենտգենաինտերֆերաչափական պատկերը՝ կախված բազմապատիկ ինտերֆերաչափումներում առաջնային փնջի անկման ուղղությունից / Ա. Հ. Աբոյան։ The X-ray interferometric image of dislocations depending on the direction of incidence of the primary beam in multiple interferometers / A. O. Aboyan.

А. О. Абоян

Պատ․ խմբ․՝ Ա․ Գ․ Նազարով (1957-1964) ; Մ․ Վ․ Կասյան (1964-1988) ; Ռ․ Մ․ Մարտիրոսյան (1989-2017 ) ; Գլխավոր խմբ․՝ Վ․ Շ․ Մելիքյան (2018-)

Technology

топографические и интерферометрические картины ; кристалл кремния ; трехкристальный двукратный интерферометр ; дислокация ; муаровые картины ; полосы сегрегации.

280-292

Топографическим и интерферометрическим методами исследовано изображение дислокаций в зависимости от направления падения первичного пучка от семейства и ориентации отражающих плоскостей. Տեղագրական և ինտերֆերաչափական մեթոդներով հետազոտվել է դիսլոկացիաների պատկերի կախվածությունն առաջնային փնջի անկման ուղղությունից, անդրադարձնող հարթությունների ընտանիքից և կողմնորոշումից: The image of dislocations depending on the direction of the primary beam incidence, and on the family and orientation of the reflecting planes is investigated by topographic and interferometric methods.

Երևան

ՀՀ ԳԱԱ Հիմնարար գիտական գրադարան