Способ воспроизведения статистического поведения цифровых интегральных схем / К. П. Слоян. A method for reproducing the statistical behavior of digital integrated circuits / K. P. Sloyan.

Պատ․ խմբ․՝ Ա․ Գ․ Նազարով (1957-1964) ; Մ․ Վ․ Կասյան (1964-1988) ; Ռ․ Մ․ Մարտիրոսյան (1989-2017 ) ; Գլխավոր խմբ․՝ Վ․ Շ․ Մելիքյան (2018-)

ժամանակային պարամետրեր ; վիճակագրական ժամանակային վերլուծություն ; ժամանակային հապաղում:

193-202

Առաջարկվել է թվային ինտեգրալ սխեմաների (ԻՍ) տարրերի ժամանակային պարամետրերի տեխնոլոգիական շեղումները հաշվի առնող վիճակագրական ժամանակային վերլուծության եղանակ, որը հնարավորություն է տալիս զգալիորեն մեծացնել ժամանակային ստուգման արդյունքների ճշտությունը՝ դրանց ստացման համար պահանջվող մեքենայական ժամանակի ծախսի ոչ էական աճով: Предложен способ статистического временного анализа, учитывающий технологические отклонения временных параметров элементов цифровых интегральных схем и позволяющий значительно увеличить точность результатов временной проверки при допустимом росте затрат машинного времени, требуемых для их получения. А new method for statistical timing analysis taking into account the process variations of timing parameters of digital IC elements is proposed. It gives an opportunity to considerably increase the accuracy of the timing check results at admissible increase in the waste of the machine time which is required to obtain them.

Երևան