LabVIEW միջավայրում չափիչ տեխնոլոգիաների մոդելավորման հարցի շուրջ / Մ. Մ. Օսիպյան։ On the issue of modeling the measuring technologies in the medium LabVIEW / M. M. Osipyan.

Պատ․ խմբ․՝ Ա․ Գ․ Նազարով (1957-1964) ; Մ․ Վ․ Կասյան (1964-1988) ; Ռ․ Մ․ Մարտիրոսյան (1989-2017 ) ; Գլխավոր խմբ․՝ Վ․ Շ․ Մելիքյան (2018-)

измерительная система ; интернет-технологии ; цифровой мультиметр ; образовательный процесс.

360-366

Показано, что интеграцией возможностей программы схемотехнического проектирования Multisim и измерительной платформы LabVIEW студенты могут легко создать образец схемы в лаборатории, сравнить теоретические и смоделированные результаты с действительными измерениями и обнаружить ошибки на ранних стадиях проектирования. Multisim սխեմայի նախագծման և LabVIEW չափիչ պլատֆորմի հնարավորությունների ինտեգրումով ուսանողները կարող են լաբորատորիայում հեշտորեն ստեղծել սխեմայի նմուշը և համեմատել տեսական ու մոդելավորված արդյունքները իրական չափումների հետ, հայտնաբերել սխալները նախագծման վաղ փուլում: It is shown that by integrating the abilities of circuit design Multisim and the LabVIEW measurement platform, students can easily create circuits in the laboratory, compare the theoretical and simulated results with the actual measurements, detect the errors at the early stages of design.

Երևան