Object structure

МЕТОД РЕГИСТРАЦИИ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИХ РАЗБРОСОВ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ МОП ТРАНЗИСТОРОВ / В. Ш. МЕЛИКЯН, Д. Л. МИРЗОЯН, А. Н. ХАЧАТРЯН, А. Г. САРГСЯН, Д. Х. ГРИГОРЯН, Э.О. МУСАЕЛЯН. PROCESS VARIATION DETECTON METHOD USING MOS TRANSISTORS / V. SH. MELIKYAN, D. L. MIRZOYAN, A. N. KHACHATRYAN, A. G. SARGSYAN, D. Kh. GRIGORYAN, E. H. MUSAYELYAN.

Վ. Շ. Մելիքյան ; Դ. Լ. Միրզոյան ; Ա. Ն. Խաչատրյան ; Ա. Գ. Սարգսյան ; Դ. Խ. Գրիգորյան ; Է. Հ. Մուսայելյան

Պատ․ խմբ․՝ Ա․ Գ․ Նազարով (1957-1964) ; Մ․ Վ․ Կասյան (1964-1988) ; Ռ․ Մ․ Մարտիրոսյան (1989-2017 ) ; Գլխավոր խմբ․՝ Վ․ Շ․ Մելիքյան (2018-)

Electrical engineering; Electronics; Nuclear engineering ; Technology

տեխնոլոգիական շեղումներ ; ենթաշեմային հոսանք ; գրանցման ճշտություն:

170-180

Ժամանակակից ինտեգրալ սխեմաներում (ԻՍ) կիսահաղորդչային տեխնոլոգիական գործընթացների անկատարելությունն առաջացնում է տարրերի, այդ թվում նաև տրանզիստորների պարամետրերի շեղումներ, որոնք բացասաբար են անդրադառնում ԻՍ-երի հուսալիության վրա: Այդ պատճառով ԻՍ-երի նախագծման արդի խնդիրներից է տեխնոլոգիական շեղումների առկայության պայմաններում հուսալիության ու ֆունկցիոնալ հնարավորությունների ապահովումը: Վերջինիս լուծման նպատակով առաջարկված է բացառապես տեխնոլոգիական շեղումների (ՏՇ) գրանցման նոր եղանակ: Այն թույլ է տալիս, բացառելով ջերմաստիճանի ու սնման լարման փոփոխության ազդեցությունը, ճշգրիտ գրանցել ՏՇ-երը: Արդյունքում ստացվող թվային ազդանշանը հնարավորություն է ընձեռում այն կիրառել թվային հանգույցների կողմից հետագա մշակման համար:

Երևան