Ազարյան Մ. Հ. ; Azaryan M. H. ; пондеромоторный ; аналитические выражения ; емкость ; электростатическая сила ; пространственное смещение ; конструкции и схемы ; атомно-силовой микроскоп

На основании анализа аналитических выражений зависимостей емкости плоскопараллельного конденсатора и электростатической силы притяжения его электродов от величины межэлектродного зазора предложен более чувствительный способ регистрации пространственного смещения (и связанной с ним любой физической величины). Описаны возможные конструкции и схемы, реализующие способ. Приведены результаты качественной проверки выдвинутой идеи в применении ее к конструкции предложенного ранее датчика силы для атомно-силового микроскопа. Ունակության և էլեկտրաստատիկ ձգողության ուժի միջէլեկտրոդային հեռավորությունից կախվածության վերլուծության հիման վրա առաջարկվում է տարածական տեղափոխության (և դրա հետ կապված բոլոր ֆիզիկական մեծությունների) ավելի զգայուն գրանցման եղանակ: Ներկայացված են հնարավոր կոնստրուկտիվ և սխեմատեխնիկական լուծումները: Բերված են առաջարկվող եղանակի որակական ստուգման տվյալները` ստացված հայտնի ատոմա-ուժային մանրադիտակի զգայուն բջիջում կիրառման արդյունքում: Based on the analysis of analytical expression dependences for flat-parallel condenser and electrostatic gravitation capacity on interelectrode gap quantity, the more sensible method of spatial displacement registration (as well as any physical value connected with it) is proposed. The possible constructions and schemes for realizing the method are described. Qualitative testing results of this idea for applying it to the proposed earlier force transducer for atomic force microscope is presented.

Երևան

ՀՀ ԳԱԱ հրատ.

2005-08-15

Հոդված

pdf