Աբոյան Ա. Հ. ; Աղբալյան Ս. Գ. ; Aboyan A. H. ; Aghbalyan S. G. ; муар ; двухкристальный и трехкристальный интерферометры ; несовершенство кристаллов ; ротационные и дилатационные искажения ; отражающие плоскости ; кинематическоe и динамическоe рассеяние ; угол Брэгга

Разработана методика графического исследования условий возникновения рентгеновских муаровых картин и их наблюдения в кристаллических системах. Определены признаки возникновения муаровых картин при первичных плоских волнах. Показано, что для получения муаровых картин необходимо облучать отражающие плоскости последнего кристалла системы с обеих сторон в угловой области отражения под углами, отличающимися от точного угла Брэгга. Մշակվել է բյուրեղական համակարգերում ռենտգենյան մուարի պատկերների առաջացման և դիտման պայմանների գրաֆիկական հետազոտությունների մեթոդ։ Որոշվել են մուարի պատկերների առաջացման հայտանիշները առաջնային հարթ ալիքների դեպքում։ Ցույց է տրված, որ մուարի պատկերներ ստանալու համար անհրաժեշտ է համակարգի վերջին բյուրեղի անդրադարձնող հարթությունները երկու կողմից ճառագայթել անդրադարձման անկյունային տիրույթի Բրեգի ճշգրիտ անկյունից տարբերվող անկյունների տակ: A method for graphical investigation of the condition for arising and observing the X-ray Moire patterns in crystalline systems is developed. Indications for arising Moire patterns at primary plane waves are defined. It is shown that to obtain Moire patterns, it is necessary to radiate the reflecting planes of the last crystalline of the system on two sides at different angles from the Breg’s accurate angle of the reflection angular range.

Երևան

ՀՀ ԳԱԱ հրատ.

2005-04-13

Հոդված

pdf