Օբյեկտ

Վերնագիր: Электрические характеристики и фотоотклик гетероструктуры «углеродная нанопленка на кремнии»

Ամսագրի կամ հրապարակման վերնագիր:

ՀՀ ԳԱԱ Տեղեկագիր: Ֆիզիկա = Proceedings of the NAS RA: Physics

Հրապարակման ամսաթիվ:

2021

Հատոր:

56

Համար:

3

Լրացուցիչ տեղեկություն:

Dabaghyan G. A., Matevosyan L. M., Avjyan K. E.

Այլ վերնագիր:

Electrical Characteristics and Photoresponse of the "Carbon Nanofilm on Silicon" Heterostructure

Ծածկույթ:

374–383

Ամփոփում:

Исследованы электрические характеристики и фотоотклик гетероструктуры «углеродная нанопленка на кремнии» полученной методом лазерно-импульсного осаждения, где толщина углеродной нанопленки выбрана из условия максимального просветляющего эффекта подложки. Установлено, что полученный переход выпрямляющий с коэффициентом выпрямления 35 при 1 В. Прямая вольт-амперная характеристика от 0.1 В до 0.35 В удовлетворительно согласуется выражением J = J0exp(eU/ηkT). Увеличение напряжения в прямом направлении приводит к появлению токов ограниченных объемным зарядом (J = AU2). Линеаризация зависимости С –2 – U указывает на резкость распределения примеси в области объемного заряда. Механизм фотоотклика гетероструктуры подобен фотоотклику анизотипных гетероструктур с эфектом «окна». Длинноволновый край (1.1 мкм) фоточувствительности определяется кремниевой подложкой, а поглощение в углеродной нанопленки приводит к дополнительному расширению области фоточувствительности. Гетероструктура обладает равномерной фоточувствительностью на уровне относительного фотоотклика 0.8 в диапазоне длин волн 0.55–1.1 мкм. Коротковолновой хвост достигает до 0.4 мкм.
The electrical characteristics and photoresponse of the “carbon nanofilm on silicon” heterostructure obtained by pulsed-laser deposition, where the thickness of the carbon nanofilm is selected from the condition of the maximum antireflection effect of the substrate, have been investigated. It was found that the obtained heterostructure is rectifying with a rectifying coefficient of 35 at 1 V. The direct current-voltage characteristic from 0.1 V to 0.35 V is in satisfactory agreement with the expression J = J0exp(eU/ηkT). An increase in the voltage in the forward direction leads to the appearance of the space charge-limited currents (J = AU2). Linearization of the С–2 - U dependence indicates the sharpness of the impurity distribution in the space charge region. The mechanism of the photoresponse of the heterostructure is similar to the photoresponse of anisotype heterostructures with the “window” effect. The longwavelength edge (1.1 μm) of the photosensitivity is determined by the silicon substrate, and absorption in the carbon nanofilm leads to an additional expansion of the photosensitivity region. The heterostructure has uniform photosensitivity at the level 0.8 of a relative photoresponse in the wavelength range of 0.55–1.1 μm. The short-wavelength tail reaches up to 0.4 μm.

Ձևաչափ:

pdf

Նույնացուցիչ:

oai:arar.sci.am:284396

Բնօրինակի գտնվելու վայրը:

ՀՀ ԳԱԱ Հիմնարար գիտական գրադարան

Օբյեկտի հավաքածուներ:

Վերջին անգամ ձևափոխված:

Oct 27, 2021

Մեր գրադարանում է սկսած:

Oct 27, 2021

Օբյեկտի բովանդակության հարվածների քանակ:

9

Օբյեկտի բոլոր հասանելի տարբերակները:

https://arar.sci.am/publication/310011

Ցույց տուր նկարագրությունը RDF ձևաչափով:

RDF

Ցույց տուր նկարագրությունը OAI-PMH ձևաչափով։

OAI-PMH

Օբյեկտի տեսակ՝

Նման

Այս էջը օգտագործում է 'cookie-ներ'։ Ավելի տեղեկատվություն