Օբյեկտ

Վերնագիր: X-Ray Diffraction Method for Investigation of Imperfections in Crystals Based on Interpretation of Sectional Topogram

Ստեղծողը:

Drmeyan, H. R. ; Margaryan, H. G.

Տեսակ:

Article

Ամսագրի կամ հրապարակման վերնագիր:

Armenian Journal of Physics=Ֆիզիկայի հայկական հանդես

Հրապարակման ամսաթիվ:

2020

Հատոր:

13

Համար:

3

ISSN:

1829-1171

Ծածկույթ:

255-262

Ամփոփում:

To increase the resolution of X-ray diffraction methods, a new method is proposed in the work, which is theoretically proven and with which thin structures of diffraction images are experimentally observed. The X-ray interference pattern obtained by X-ray diffraction in a system consisting of a two-crystal system with a narrow gap and a thick absorbing crystal was studied. The theoretical period of the interbranch scattered bands obtained from this system is calculated. It is shown that the presence of a thick plate makes it possible to increase the period of the bands by about 5 to 10 times. For the first time, two dynamic effects were simultaneously observed: on one topogram, interbranch scattering bands and moire patterns formed in a two-crystal system were observed.

Նույնացուցիչ:

oai:arar.sci.am:263327

Բնօրինակի գտնվելու վայրը:

ՀՀ ԳԱԱ Հիմնարար գիտական գրադարան

Օբյեկտի հավաքածուներ:

Վերջին անգամ ձևափոխված:

May 19, 2021

Մեր գրադարանում է սկսած:

Nov 5, 2020

Օբյեկտի բովանդակության հարվածների քանակ:

3

Օբյեկտի բոլոր հասանելի տարբերակները:

https://arar.sci.am/publication/286795

Ցույց տուր նկարագրությունը RDF ձևաչափով:

RDF

Ցույց տուր նկարագրությունը OAI-PMH ձևաչափով։

OAI-PMH

Այս էջը օգտագործում է 'cookie-ներ'։ Ավելի տեղեկատվություն