Նիւթ

Վերնագիր: A novel approach for yield optimization

Ստեղծողը:

Vazgen S. Karapetyan

Տեսակ:

Article

Այլ վերնագիր:

Պիտանի արտադրանքի օպտիմալացման մի նոր մոտեցման մասին

Ծածկոյթ:

85-91

Ամփոփում:

In this paper a novel approach for yield optimization is presented. While there are di®erent types of defects or other issues a®ecting the yield, only the "extra conductive material" type (potentially causing shorts circuits) is studied. The approach tends to improve the yield of the IC layout by reducing the area which is sensitive to random defects, the so-called critical area.

Հրատարակիչ:

НАН РА

Ստեղծման ամսաթիւը:

2006-05-10

Ձեւաչափ:

pdf

Նոյնացուցիչ:

oai:arar.sci.am:258471

Ամսագրի կամ հրապարակման վերնագիր:

Математические вопросы кибернетики и вычислительной техники=Կիբեռնետիկայի և հաշվողական տեխնիկայի մաթեմատիկական հարցեր=Mathematical problems of computer science

Հրապարակման ամսաթիւ:

2006

Հատոր:

vol. 25

ISSN:

0131-4645

Բնօրինակին գտնուելու վայրը:

ՀՀ ԳԱԱ Հիմնարար գիտական գրադարան

Նիւթին հաւաքածոները:

Վերջին անգամ ձեւափոխուած է:

May 11, 2021

Մեր գրադարանին մէջ է սկսեալ:

Jul 24, 2020

Նիւթին բովանդակութեան հարուածներուն քանակը:

0

Նիւթին բոլոր հասանելի տարբերակները:

https://arar.sci.am/publication/281540

Ցոյց տուր նկարագրութիւնը RDF ձեւաչափով:

RDF

Ցոյց տուր նկարագրութիւնը OAI-PMH ձեւաչափով։

OAI-PMH

Հրատարակութեան անունը Թուական
A novel approach for yield optimization May 11, 2021

Այս էջը կ'օգտագործէ 'cookie-ներ'։ Յաւելեալ տեղեկատուութիւն