Հրապարակման մանրամասներ:

Established in 2008

Ամսագրի կամ հրապարակման վերնագիր:

Armenian Journal of Physics=Ֆիզիկայի հայկական հանդես

Հրապարակման ամսաթիւ:

2015

Հատոր:

8

Համար:

4

ISSN:

1829-1171

Պաշտոնական URL:

Համատեղ հեղինակները:

National Research Tomsk Polytechnic University, 30, Lenina Avenue, Tomsk, 634050, Russia ; Institute of Applied Problems of Physics of NAS RA

Ծածկոյթ:

166-169

Ամփոփում:

We consider the hard X–ray diffraction from reflecting atomic planes (1011) of X–cut quartz single crystal with different thicknesses in Laue geometry influenced by the temperature gradient. It has been experimentally proved that, depending on the value of the temperature gradient, the intensity of the reflected beam can be increased by orders of magnitude. It is shown that by using the temperature gradient it is possible to separate a beam with high angular and spectral width from the white beam and move it to the direction of reflection.

Ստեղծման ամսաթիւը:

2015-12-06

Ձեւաչափ:

pdf

Նոյնացուցիչ:

oai:arar.sci.am:23416

Բնօրինակին գտնուելու վայրը:

ՀՀ ԳԱԱ Հիմնարար գիտական գրադարան