Показано, что при динамической дифракции сферической рентгеновской волны на сверхрешетке с малым периодом в зависимости от структурных факторов сверхрешетки происходит фокусировка сателлитов как на разных глубинах внутри кристалла, так и на разных расстояниях от кристалла в вакууме. На основе полученных результатов предложен метод исследования сверхрешетки посредством динамической дифракционной фокусировки сферической рентгеновской волны. Метод основан на измерении фокусных расстояний различных сателлитов. Ցույց է տրված, որ փոքր պարբերությամբ գերցանցում ռենտգենյան սֆերիկ ալիքի դինամիկական դիֆրակցիայի դեպքում, կախված գերցանցի կառուցվածքային գործոնից, տեղի է ունենում սատելիտների կիզակետում ինչպես բյուրեղում տարբեր խորությունների վրա, այնպես էլ վակուումում` բյուրեղից տարբեր հեռավորությունների վրա: Ստացված արդյունքների հիման վրա առաջարկված է ռենտգենյան սֆերիկ ալիքի դինամիկական դիֆրակցիայի դեպքում տարբեր սատելիտների կիզակետման հեռավորությունների չափման միջոցով գերցանցերի հետազոտման եղանակ: It is shown that in the case of dynamical diffraction of a spherical X-ray wave on a short-period superlattice, depending on structural factors of the superlattice the satellites are focused both at different depths inside the crystal and at different distances from the crystal in vacuum. On the basis of obtained results, a method of study of superlattice structure by dynamical diffraction focusing of a spherical X-ray wave is proposed. The method is based on the measurement of focal lengths of different satellites.

pdf

АЖ 415

Հրապարակման մանրամասներ:

Ամսագրի կամ հրապարակման վերնագիր:

Հրապարակման ամսաթիվ:

Հատոր:

Համար:

ISSN:

Պաշտոնական URL:

Վերնագիր:

Այլ վերնագիր:

Ստեղծողը:

Աջակից(ներ):

Խորագիր:

Չվերահսկվող բանալի բառեր:

Ծածկույթ:

Ամփոփում:

Հրատարակիչ:

Ստեղծման ամսաթիվը:

Տեսակ:

Ձևաչափ:

Դասիչ:

Բնօրինակի գտնվելու վայրը: