Հրապարակման մանրամասներ:
Լույս է տեսնում 1966 թվականից՝ տարին 4 անգամ։
Ամսագրի կամ հրապարակման վերնագիր:
ՀՀ ԳԱԱ Տեղեկագիր: Ֆիզիկա = Proceedings of the NAS RA: Physics
Հրապարակման ամսաթիւ:
Հատոր:
Համար:
ISSN:
Պաշտոնական URL:
Վերնագիր:
Электронные фазовые переходы металл–изолятор в широкозонных полупроводниках ZnO
Այլ վերնագիր:
Ստեղծողը:
Н. Р. Агамалян ; Т. А. Асланян ; Э. С. Варданян ; Е. А. Кафадарян ; Р. К. Овсепян ; С. И. Петросян ; А. Р. Погосян
Աջակից(ներ):
Պատ․ խմբ․՝ Գ․ Մ․ Ղարիբյան (1966-1992) ; Գլխ․ խմբ․՝ Վ․ Մ․ Հարությունյան (1993-2021) ; Կ․ Մ․ Ղամբարյան (2022-)
Խորագիր:
Physics ; Science ; Physics of Semiconductors ; Radiophysics
Չվերահսկուող բանալի բառեր:
Աղամալյան Ն. Ռ. ; Ասլանյան Տ. Ա. ; Վարդանյան Է. Ս. ; Կաֆադարյան Ե. Ա. ; Հովսեփյան Ռ. Կ. ; Պետրոսյան Ս. Ի. ; Պողոսյան Ա. Ռ. ; Aghamalyan N. R. ; Aslanyan T. A. ; Vardanyan E. S. ; Kafadaryan Y. A. ; Hovsepyan R. K. ; Petrosyan S. I. ; Poghosyan A. R.
Ծածկոյթ:
Ամփոփում:
Исследованы электронные фазовые переходы металл–изолятор в широкозонных полупроводниках ZnO. Рассмотрено влияние дефектного комплекса, обусловленного кислородной вакансией и междоузельным атомом цинка, на переход металл–изолятор. Изучены особенности этого перехода в легированных донорной или акцепторной примесью пленках ZnO и влияние вышеуказанного дефектного комплекса на механизм транспорта носителей заряда. Ուսումնասիրված են լայն արգելված գոտիով ZnO կիսահաղորդիչներում մետաղեկուսիչ փուլային անցումները: Դիտարկված է թթվածնի ատոմի թափուրքով և միջհանգուցային ցինկի ատոմով պայմանավորված արատների համալիրի ազդեցությունները մետաղ–մեկուսիչ անցման վրա: Հետազոտված են այդ անցման առանձնահատկությունները դոնորային կամ ակցեպտորային խառնուկներով լեգիրված ZnO թաղանթներում և վերը նշված արատների համալիրի ազդեցությունը լիցքակիրների տեղափոխման մեխանիզմի վրա: Metal–insulator electronic phase transitions in wide-gap ZnO semiconductors have been studied. The influence of defect complex caused by oxygen vacancy and interstitial zinc atom on the metal–insulator transition is considered. The peculiarities of this transition in ZnO films doped with donor or acceptor impurity and the influence of mentioned defect complex on the charge carrier transfer mechanism were investigated.