Применение пористого кремния для двух- и трехслойных антиотражающих покрытий для кремниевых фотовольтаических преобразователей

Ծակոտկեն սիլիցիումի կիրառությունը սիլիցիումային ֆոտովոլտային փոխակերպիչներում որպես երկ- և եռաշերտ հակաանդրադարձիչ ծածկույթ; Use of porous silicon for double- and trilpe-layer antireflection coatings in silicon photovoltaic converters

В. М. Арутюнян ; Х. С. Мартиросян ; А. С. Оганнисян ; П. Г. Сукиасян

Պատ․ խմբ․՝ Գ․ Մ․ Ղարիբյան (1966-1992) ; Գլխ․ խմբ․՝ Վ․ Մ․ Հարությունյան (1993-2021) ; Կ․ Մ․ Ղամբարյան (2022-)

Physics ; Science ; Radiophysics

Հարությունյան Վ. Մ. ; Մարտիրոսյան Խ. Ս. ; Հովհաննիսյան Ա. Ս. ; Սուքիասյան Պ. Գ. ; Aroutiounian V. M. ; Martirosyan Kh. S. ; Hovhannisyan A. S. ; Soukiassian P. G.

111-119

С помощью метода приближения оптических матриц рассчитаны спектры отражения двух- и трехслойных антиотражающих покрытий, созданных из пористого кремния. Օպտիկական մատրիցների մոտավորության մեթոդով հաշվարկված են ծակոտկեն սիլիցիումի հիման վրա երկ- և եռաշերտ հակաանդրադարձիչ ծածկույթների անդրադարձման սպեկտրները: Reflectance spectrum calculations of double- and triple-layer antireflection coatings made of porous silicon layer are performed, using the optical matrix approach method.

ՀՀ ԳԱԱ Հիմնարար գիտական գրադարան