Հրապարակման մանրամասներ:

Լույս է տեսնում 1966 թվականից՝ տարին 4 անգամ։

Ամսագրի կամ հրապարակման վերնագիր:

ՀՀ ԳԱԱ Տեղեկագիր: Ֆիզիկա = Proceedings of the NAS RA: Physics

Հրապարակման ամսաթիվ:

2000

Հատոր:

35

Համար:

4

ISSN:

0002-3035

Պաշտոնական URL:

Վերնագիր:

Исследование полей деформаций в кристалле-анализаторе рентгеновского интерферометра, подвергнутого ионной имплантации

Այլ վերնագիր:

Իոններով իմպլանտացման ենթարկված ռենտգենյան ինտերֆերաչափի վերլուծիչ-բյուրեղում առաջացած դեֆորմացիոն դաշտերի հետազոտությունը; Investigation of deformation fields in analyzing crystal of X-ray interferometer under the ion implantation

Ստեղծողը:

А. О. Абоян

Աջակից(ներ):

Պատ․ խմբ․՝ Գ․ Մ․ Ղարիբյան (1966-1992) ; Գլխ․ խմբ․՝ Վ․ Մ․ Հարությունյան (1993-2021) ; Կ․ Մ․ Ղամբարյան (2022-)

Խորագիր:

Physics ; Science ; Electricity and magnetism

Չվերահսկվող բանալի բառեր:

Աբոյան Ա. Հ. ; Aboyan A. O.

Ծածկույթ:

212-219

Հրատարակիչ:

ՀՀ ԳԱԱ հրատ.

Ստեղծման ամսաթիվը:

2000-07-22

Տեսակ:

Հոդված

Ձևաչափ:

pdf

Դասիչ:

АЖ 415

Բնօրինակի գտնվելու վայրը:

ՀՀ ԳԱԱ Հիմնարար գիտական գրադարան