Հրապարակման մանրամասներ:

Լույս է տեսնում 1966 թվականից՝ տարին 4 անգամ։

Ամսագրի կամ հրապարակման վերնագիր:

ՀՀ ԳԱԱ Տեղեկագիր: Ֆիզիկա = Proceedings of the NAS RA: Physics

Հրապարակման ամսաթիվ:

2000

Հատոր:

35

Համար:

2

ISSN:

0002-3035

Պաշտոնական URL:

Վերնագիր:

Рентгенографический способ определения толщины приповерхностных деформированных слоев монокристаллов

Այլ վերնագիր:

Միաբյուրեղների մերձմակերևութային դեֆորմացված շերտերի հաստության որոշման ռենտգենագրական եղանակ; X-ray graphic method for determination of thickness of subsurface deformed layers in single crystals

Ստեղծողը:

А. О. Абоян ; А. С. Тумасян

Աջակից(ներ):

Պատ․ խմբ․՝ Գ․ Մ․ Ղարիբյան (1966-1992) ; Գլխ․ խմբ․՝ Վ․ Մ․ Հարությունյան (1993-2021) ; Կ․ Մ․ Ղամբարյան (2022-)

Խորագիր:

Physics ; Science ; Electricity and magnetism

Չվերահսկվող բանալի բառեր:

Աբոյան Ա. Հ. ; Թումասյան Ա. Ս. ; Aboyan A. O. ; Tumasyan A. A.

Ծածկույթ:

100-105

Հրատարակիչ:

ՀՀ ԳԱԱ հրատ.

Ստեղծման ամսաթիվը:

2000-03-25

Տեսակ:

Հոդված

Ձևաչափ:

pdf

Դասիչ:

АЖ 415

Բնօրինակի գտնվելու վայրը:

ՀՀ ԳԱԱ Հիմնարար գիտական գրադարան