<?xml version="1.0" encoding="utf-8"?>
<?xml-stylesheet type="text/xsl" href="https://arar.sci.am/style/common/xsl/oai-style.xsl"?>
<OAI-PMH xmlns="http://www.openarchives.org/OAI/2.0/" 
         xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance"
         xsi:schemaLocation="http://www.openarchives.org/OAI/2.0/
         http://www.openarchives.org/OAI/2.0/OAI-PMH.xsd">
	<responseDate>2026-04-11T22:15:11Z</responseDate>
	<request identifier="oai:arar.sci.am:428832" metadataPrefix="oai_dc" verb="GetRecord">
	https://arar.sci.am/oai-pmh-repository.xml</request>
	<GetRecord>
	
  <record>
	<header>
		<identifier>oai:arar.sci.am:428832</identifier>
	    <datestamp>2026-04-08T12:42:06Z</datestamp>
		  <setSpec>dLibraDigitalLibrary</setSpec> 	      <setSpec>dLibraDigitalLibrary:Articles</setSpec> 	    </header>
		<metadata>
	<oai_dc:dc xmlns:dc="http://purl.org/dc/elements/1.1/" xmlns:oai_dc="http://www.openarchives.org/OAI/2.0/oai_dc/" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xsi:schemaLocation="http://www.openarchives.org/OAI/2.0/oai_dc/ http://www.openarchives.org/OAI/2.0/oai_dc.xsd">
<dc:title xml:lang="hye"><![CDATA[Study of circuit parameters obtained using algorithms for detecting and correcting errors]]></dc:title>
<dc:creator xml:lang="hye"><![CDATA[Melikyan, N. V.]]></dc:creator>
<dc:creator xml:lang="hye"><![CDATA[Danielyan, A. M.]]></dc:creator>
<dc:creator xml:lang="hye"><![CDATA[Manukyan, A. G.]]></dc:creator>
<dc:creator xml:lang="hye"><![CDATA[Galstyan, A. A.]]></dc:creator>
<dc:subject xml:lang="hye"><![CDATA[Electronics]]></dc:subject>
<dc:description xml:lang="hye"><![CDATA[Software errors and constantly reducing technologies have paved the way for the creation of software algorithms for detecting and correcting errors in embedded systems. The quality of the algorithm for detecting and correcting errors in such systems depends to a great extent on the behavioral description of this algorithm. Each algorithm for detecting and correcting errors is more efficient than the other. In this paper, two of the most common detector algorithms were studied, the circuit described by these algorithms was synthesized by SAED 14 and SAED 32 nanometer libraries and the parameters were evaluated. Программные ошибки и постоянно уменьшающиеся технологии проложили путь к созданию алгоритмов обнаружения и исправления программных ошибок во встроенных системах. Степень сложности алгоритма обнаружения и исправления ошибок в таких системах зависит от его поведенческого описания. В данной работе были изучены два из наиболее распространенных алгоритмов детектирования, проведено исследование схем с описанием этих алгоритмов, синтезированных для технологий САУД 14нм и САУД 32нм, оценка и сравнение параметров.]]></dc:description>
<dc:description xml:lang="hye"><![CDATA[Շուշի]]></dc:description>
<dc:type xml:lang="hye"><![CDATA[Հոդված]]></dc:type>
<dc:format xml:lang="hye"><![CDATA[pdf]]></dc:format>
<dc:identifier><![CDATA[https://arar.sci.am/dlibra/docmetadata?showContent=true&id=428832]]></dc:identifier>
<dc:identifier><![CDATA[oai:arar.sci.am:428832]]></dc:identifier>
<dc:identifier><![CDATA[http://arar.sci.am/Content/428832/39.pdf]]></dc:identifier>
<dc:relation><![CDATA[oai:arar.sci.am:publication:461947]]></dc:relation>
<dc:coverage xml:lang="hye"><![CDATA[39-44]]></dc:coverage>
</oai_dc:dc>

</metadata>
	  </record>	</GetRecord>
</OAI-PMH>
