Learning methodology for validation of memory bist solutions via a shared interface - Babayan, A. V.; Shoukourian, S. K. («Պոլիտեխնիկ» տպ.)
Memory built-in self-test (MBIST) continues to have its unique place in IC industry. It provides test and repair capabilities which significantly increase IC manufacturing yield. In this paper, a methodology is proposed to soften the mentioned above exhaustion. A new algorithm of learning is proposed, and the results of the algorithm application are adduced which justify its efficiency in reducing the exhaustion. Հիշող սարքերի ներկառուցված թեստավորումը (MBIST) շարունակում է զբաղեցնել իր ուրույն տեղը ինտեգրալ սխեմաների (ԻՍ) արդյունաբերությունում։ Այն ընձեռում է թեստավորման և վերականգնման հնարավորություններ, որոնք զգալիորեն բարձրացնում են ԻՍ արդյունաբերության պիտանի ելքի տոկոսը։ Առաջարկվում է մեթոդաբանություն, որը մեղմում է վերը նկարագրված հատարկումը։ Առաջարկվում է ուսուցանվող նոր ալգորիթմ, իսկ ալգորիթմի կիրառման արդյունքները ներկայացվում են, որոնք հավաստում են դրա արդյունավետությունը հատարկման նվազեցման գործում։ Встроенные системы самотестирования памяти (MBIST) продолжают занимать уникальное место в индустрии интегральных схем (ИС). Они предоставляют возмож-ности тестирования и восстановления ИС, что значительно увеличивает выход годных ИС во время их производства. В данной статье предлагается методология смягчения упомянутого выше перебора. Предложен новый обучающийся алгоритм и приведены результаты его применения, обосновывающие его эффективность для снижения перебора.
Keywords: Microelectronics