Built-in Self-Test and Self-Correction Method for Mixed-Signal Integrated Circuits - Mkhitaryan, A. Kh.; Hovhannisyan, V. D.; Hakobyan, L. D.; Gevorgyan, A. Kh.; Petrosyan, A. O. («Պոլիտեխնիկ» տպ.)
In modern integrated circuits the number of devices have strongly increased. As a result, identifying the issues which have an impact on their performance stands out as a very complicated and challenging problem. In digital integrated circuits there are methods which are known, as well as some others which are in the active development stages targeted to enable the built-in self-tests, identify, and report those issues. At that, for mixed signal circuits, where the calculations or functions are performed based on the voltage levels, it is much complicated to develop self-testing mechanisms. A novel method of identifying the lack of clock signal and its duty cycle variation is proposed in this paper. The developed architectures and solutions are capable of detecting the lack of the clock signals, as well as informing the digital parts of the systems about the requirement for the coarse or fine tunings of the clock generation systems outside their autocalibration and loops. Ժամանակակից ինտեգրալ սխեմաներում տարրերի քանակը էականորեն մեծացել է։ Ուստի դրանց վարքագծի վրա բացասաբար անդրադարձող խնդիրների հայտնաբերումը դարձել է բարդ մարտահրավեր։ Թվային ինտեգրալ սխեմաներում գոյություն ունեն ինչպես հայտնի, այնպես էլ ակտիվ մշակման փուլում գտնվող լուծումներ, որոնք միտված են ինքնաթեստավորման միջոցով հայտնաբերելու և գրանցելու այդ խնդիրները։ Մինչդեռ խառը ազդանշանային սխեմաներում, որտեղ որպես հաշվարկների հիմք ծառայում են ազդանշանների լարման արժեքները, ինքնաթեստավորման մեթոդների ներդրումը հանդիսանում է առավել բարդ խնդիր։ Աշխատանքի շրջանակներում առաջարկվել է սինքրոազդանշանի բացակայության և լցման գործակցի տատանման հայտնաբերման մեթոդ։ Մշակված ճարտարապետությունները և լուծումները ունակ են հայտնաբերելու սինքրոազդանշանի բացակայությունը և համակարգերի թվային հանգույցներին տեղեկացնելու այդ ազդանշանների՝ համակարգերի ինքնակարգաբերման մեխանիզմներից անկախ կոպիտ և ճշգրիտ կարգաբերման անհրաժեշտության մասին։ В современных интегральных схемах (ИС) число элементов существенно увеличилось, в результате чего решение проблем, влияющих на их эффективность, представляет собой сложную задачу. В цифровых ИС имеются как известные методы, так и методы, находящиеся в активной стадии разработки, которые предназначены для включения встроенного самотестирования, выявления и сообщения об этих проблемах. При этом в смешанных сигнальных схемах, где в основе расчетов выступают значения напряжения сигналов, внедрение методов самотестирования намного сложнее. В статье предлагается новый метод определения отсутствия тактового сигнала и изменения его коэффициента заполнения. Разработанные архитектуры и решения спо- собны обнаруживать отсутствие тактовых сигналов, а также информировать цифровые части систем о необходимости грубой или точной настройки систем генерации тактовых импульсов вне их контуров автокалибровки.
Keywords: Microelectronics