Validation and Test Time Reduction Approach for Built-In-Self-Test and Repair of Memories Via a Shared Interface - Babayan, A. V. («Պոլիտեխնիկ» տպ.)
A memory built-in self-test and repair (MBISTR) is a key component in improving a system-on chip (SoC) yield under daily raising new challenges in IC industry where memories very often make up the bulk of a SoC. Once a given SoC has a huge number of memories, it is convenient to test them via a common test network. Meantime, some designs do not allow to insert this network into an already existing functional design via adding new nodes in the existing paths but do allow to add it to the design via already existing functional connection interfaces instead. For example, a shared interface for connecting a central processing unit (CPU) and cache memories in SoCs is already used for testing these memories via special MBISTR engines connected to this shared interface. These MBISTR engines have specific features which may impact essentially the validation and test time. A way for validation and test time reduction is proposed in this paper for the multiport memories connected to MBISTR engine via a shared interface. Հիշող սարքերի ներկառուցված թեստավորման և վերանորոգման համակարգը (MBISTR) կարևոր բաղադրիչ է բյուրեղի ելքի տոկոսը բարձրացնելու համար՝ ինտեգրալային սխեմաների արդյունաբերության նորանոր մարտահրավերների պայմաններում, որտեղ հիշող սարքերը գերակշիռ մաս են կազմում են: Համակարգում առկա բազմաթիվ հիշող սարքերը հարմար է ստուգել ընդհանուր թեստավորման ցանցի միջոցով։ Միևնույն ժամանակ, որոշակի նախագծերում չի թույլատրվում ավելացնել այս թեստավորող ցանցը նոր միացումներով, փոխարենը՝ առաջարկելով օգտագործել առկա ֆունկցիոնալ միացումներով ինտերֆեյսները։ Օրինակ, կենտրոնական մշակման հանգույցը (CPU) և քեշ հիշողությունները իրար միացնող ընդհանուր կապուղին և կապուղն միացված հատուկ MBISTR համակարգերն արդեն իսկ օգտագործվում են այդ հիշողությունները թեստավորելու համար։ Այս MBISTR համակարգերն ունեն որոշակի առանձնահատկություններ, որոնք կարող են զգալի կերպով ազդել վավերացման և թեստավորման ժամանակի վրա։ Առաջարկվում է ընդհանուր կապուղուն միացված բազմապորտ հիշողությունները թեստավորող համակարգի վավերացման և թեստավորման ժամանակի կրճատման մոտեցում։ Встроенная система самотестирования и восстановления памяти (MBISTR) является ключевым компонентом в повышении производительности системы на кристалле (SoC) в условиях появления новых задач в промышленности интегральных схем, где память очень часто составляет основную часть кристалла. Когда у данного кристалла огромное количество памяти, удобно тестировать их через общую тестовую сеть. Между тем некоторые проекты не позволяют вставить эту тестовую и восстановительную сеть в уже существующий функциональный проект путем добавления новых узлов в существующие, но вместо этому позволяют добавить ее в проект через уже существующие функциональные соединения с интерфейсом. Например, общий интерфейс для подключения центрального процессора (CPU) и кэш-памяти в кристалле уже используется для тестирования этой памяти через специальные механизмы MBISTR, подключенные к общему интерфейсу. Эти механизмы MBISTR имеют определенные функции, которые могут существенно повлиять на время проверки и тестирования. Предлагается способ сокращения времени проверки и тестирования многопортовой памяти, подключенной к механизму MBISTR через общий интерфейс.
Keywords: Microelectronics