Влияние электронного облучения на радиационно-оптические свойства терморегулирующих материаловв видимой области спектра - Арутюнян, В. В.; Алексанян, Е. М.; Бадалян, А. О.; Арестакян, А. Г.; Арзуманян, B. В.; Оганесян, А. О.; Григорян, Н. Е.; Баграмян, В. В.; Саргсян, A. A.; Манукян, Х. В.
Исследовалось влияние электронного облучения на оптические свойства терморегулирующих покрытий- силиката цинка. Образцы получены методам гидротермального микроволнового (ГТМВ) синтеза. Для изучения радиационной стойкости, взаимосвязи между структурами и характеристиками материалов использованы методы спектроскопического и структурного анализа. Результаты сканирующей электронной микроскопии, фотолюминесценции, коэффициента диффузного отражения и поглощения показали, что покрытия на основе CeZn2SiO4 обладают высокой радиационной стойкостью по сравнению с чистым Zn2SiO4. Ուսումնասիրվել է էլեկտրոնների ճառագայթման ազդեցությունը ցինկի սիլիկատի հիմքով ջերմակարգավորիչ ծածկույթների օպտիկական հատկությունների վրա: Նմուշները ստացվել են հիդրոթերմալ միկրոալիքային (ՀԹՄԱ) սինթեզի մեթոդով: Սպեկտրոսկոպիկ և կառուցվածքային վերլուծության մեթոդները օգտագործվել են ճառագայթման հանդեպ կայունությունը, նյութերի կառուցվածքների և բնութագրերի փոխհարաբերությունները ուսումնասիրելու համար: Սկանավորող էլեկտրոնային մանրադիտակի, ֆոտոլյումինեսցենցիայի, դիֆուզ անդրադարձման և կլանման գործակիցների արդյունքները ցույց են տվել, որ Ce–Zn2SiO4-ի վրա հիմնված ծածկույթներն ունեն ավելի բարձր ճառագայթային կայունություն ի համեմատ մաքուր Zn2SiO4-ի: We investigated the effect of electron irradiation on the optical properties of thermal control coatings – zinc silicate. Samples were obtained by hydrothermal microwave (HTMW) synthesis. Methods of spectroscopic and structural analysis were used to study the radiation resistance, the relationship between the structures and characteristics of materials. The results of scanning electron microscopy, photoluminescence, diffuse reflection, and absorption coefficients showed that coatings based on Ce–Zn2SiO4 have a high radiation resistance compared to pure Zn2SiO4.
Keywords: Физика