@misc{М._М._Осипян_Некоторые,
 author={М. М. Осипян},
 address={Երևան},
 howpublished={online},
 publisher={ՀՀ ԳԱԱ հրատ.},
 abstract={Проведено исследование системной методологии и задач статистической оптимизации микросхем. Дано обоснование концепции микроконтроллерной автоматизированной контрольно-измерительной аппаратуры входного контроля цифровых интегральных схем с последующей оценкой эффективности ее функционирования. Предложена модель процесса тестирования и получены зависимости вероятности обнаружения ошибок от параметров системы испытаний и продолжительности испытаний от оптимизации тестовых последовательностей. Միկրոսխեմաների համակարգչային մեթոդաբանության ու վիճակագրական օպտիմալացման խնդիրների ուսումնասիրման արդյունքում hիմնավորված է ԹԻՍ-ի մուտքային հսկման միկրոկոնտրոլերային ԱՀՉՀ-ի մոդելի մտահղացումը` գործունեության արդյունավետության գնահատականով: Մշակված է ԹԻՍ-ի տեստավորման գործընթացի մոդել: An investigation of system methodology and statistical optimization tasks of the microcircuits is carried out.The conception of the microcontroller tester for digital circuits input control is proved. A model of the digital circuit testing process is proposed. Dependences on debugging the system testing parameters and testing durability of optimization testing sequences are obtained.},
 type={Հոդված},
 title={Некоторые вопросы оценки качества входного контроля цифровых интегральных схем},
 keywords={Technology},
}